ฉัตรชัย พะวงษ์
ผศ.ดร. ฉัตรชัย พะวงษ์
ข้อมูลส่วนตัว
149
Profile
ชื่อ - นามสกุล
ผศ.ดร. ฉัตรชัย พะวงษ์
อีเมล
chutchai.p@mail.rmutk.ac.th
ประจำสาขา
ฟิสิกส์
เบอร์โทรศํพท์
-
เกี่ยวกับตัวเรา
อินเตอร์เฟอร์โรมิเตอร์แบบต่าง ๆ โพลาไรเซชั่นของแสงการตรวจสอบคุณสมบัติของวัสดุ โดยสามารถนำความรู้เรื่องแสงโพลาไรซ์มาประยุกต์ใช้ในชุดอินเตอร์เฟอร์โรมิเตอร์เพื่อเป็นเครื่องมือในการวิเคราะห์หา ดัชนีหักเหของสารการวัดความหนาของฟิล์มบางรวมทั้งค่าการหน่วงเฟสในผลึกบางชนิด
นิวเคลียร์ฟิสิกส์
ฟิสิกส์ศึกษา การพัฒนาการเรียนการสอนในเด็กอาชีวศึกษา
ด้านวารสารวิชาการ ( Journal )
-
The rotating linearly polarized light from a polarizing Mach–Zehnder interferometer: Production and applications เผยแพร่ May 24, 2553
-
Investigation the use of rotating linearly polarized light for characterizing SiO2 thin-film on Si substrate เผยแพร่ May 24, 2554
-
Fast and Effective Method to Distinguish the Polarizing Components Using a Polarizing Triangular Cyclic Interferometer เผยแพร่ May 1, 2557
-
Generation of the Rotating Linearly Polarized Light Using the Triangular Cyclic Interferometer เผยแพร่ Jul 1, 2557
-
Effects of Catalyst on Carbon Nanotubes Synthesized by Thermal Chemical Vapor Deposition Method เผยแพร่ Jul 19, 2559
-
Polarizing Triangular Cyclic Interferometer for Characterizing Optical Samples with Birefringent Properties เผยแพร่ Oct 22, 2558International Conference on Photonics Solutions 2015 International Conference on Photonics Solutions 2015
1 -
Measurement of Phase Retardation in a Liquid Crystal Variable Wave Retarder Using a Polarizing Triangular Interferometer เผยแพร่ May 1, 2559International Conference on Optical Communications and Networks (ICOCN) International Conference on Optical Communications and Networks (ICOCN)
0 -
To Create the Michelson Interferometer by Low Cost Optical Device เผยแพร่ Aug 24, 2559International Conference on Creative Technology 2016 International Conference on Creative Technology 2016
0 -
Polarization Phase-shifting Technique for the Determination of a Transparent Thin Film’s Thickness Using a Modified Sagnac Interferometer เผยแพร่ Jun 8, 2561
-
Utilization of the cyclic interferometer in polarization phase-shifting technique to determine the thickness of transparent thin-films เผยแพร่ May 24, 2566
-
Real-Time Double-Layer Thin Film Thickness Measurements Using Modified Sagnac Interferometer with Polarization Phase Shifting Approach เผยแพร่ Nov 24, 2564
-
Thickness Measurement of Double Layer Transparent Material Using Triangular Path Cyclic Interferometer เผยแพร่ May 24, 2566International Electrical Engineering Congress (iEECON2021) International Electrical Engineering Congress (iEECON2021)
1
ด้านการประชุมวิชาการ ( Conference )
ไม่มีข้อมูลการประชุมบทความวิชาการ
สิทธิบัตร ( Patent )
ไม่มีข้อมูลสิทธิบัตร
โครงการวิจัย
| ลำดับ | ชื่อโครงการ | ผู้เขียน | สถานะ | แหล่งทุน | ปี |
|---|