ชื่องานวิจัย ( Article Name)
6
Refractive Index Finding using Multiple Light Reflections with Modified Sagnac Interferometer
บทคัดย่อ ( Abstract )
ABSTRACT - Refractive index finding using multiple light reflections with modified Sagnac interferometer is proposed here. The thickness of the material and fringes pattern are fundamental parameters in such measurement. In this proposed technique, multiple light reflections, by the two parallel mirrors attached to a piezo-electric transducer (PZT) vibrating at a frequency of 420Hz, introduced the phase retardation. The phase retardation and reflected angles could be found and employed for refractive index determination. Four identical interferograms were obtained by a half-wave plate (HWP) oriented at 0, π/2, π and 3π/2 rad with respect to the incident plane. The intensities at their respective patterns were evaluated and the phase shift could be computed. Using numerous reflections with a Sagnac interferometer, this technique is presented to obtain multiple fringes with a sample fixed in position at certain carrier frequencies.
เอกสารวิจัย ( Paper )
ผู้เขียน ( Authors )
- ฉัตรชัย พะวงษ์
ข้อมูลการเผยแพร่ ( Journal Infomation )
ชื่อวารสารที่ตีพิมพ์
The 2022 International Electrical Engineering Congress (iEECON2022)
หน่วยงานเจ้าของวารสาร
IEEE Xplore
ลิงค์ฐานข้อมูลวารสารที่เผยแพร่
www.IEEE.com
ประเภทฐานข้อมูล
-
ประเมินบทความโดย
King Mongkut's University of Technology Thonburi
วันที่ได้รับการอนุมัติ
Jan 3, 2565
วันที่เผยแพร่
Mar 9, 2565
เผยแพร่ระดับ
ระดับนานาชาติ
เลขที่ ISBN / ISSN / DOI
10.1109/iEECON53204.2022.9741591
ปีที่ - ฉบับที่ - หน้าที่
ปี 22 ฉบับที่ 1 หน้าที่ 978-1-6654-0206-4
แหล่งทุนงานวิจัย
เงินจากแหล่งทุนอื่น ๆ
วันที่อัพเดตข้อมูลล่าสุด
2023-06-22 08:32:48